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半金属及半导体材料分析方法
标准资料
YS/T 981.1-2014 高纯铟化学分析方法镁、铝、硅、硫、铁、镍、铜、锌、砷、银、镉、锡、铊、铅的测定高质量分辨率辉光放电质谱法
本部分规定了用高质量分辨率辉光放电质谱法测定99.999%以上高纯铟中镁、铝、硅、硫...
2025-02-12
标准资料
SC/T 1153-2021 乌龟 亲龟和苗种
本文件规定了碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的二次离子质谱测试方法。 本文件适用...
2024-09-30
标准资料
QC/T 1153-2021 汽车紧固连接螺栓轴力测试 超声波压电陶瓷片法
本文件规定了碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的二次离子质谱测试方法。 本文件适用...
2024-09-29
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