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SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法

本标准规定了可见光发光二极管外延片的几何参数、表面缺陷、结构参数及光电参数的测试方法。
本标准适用于镓砷磷系、镓铝砷系、铝镓铟磷系及铝镓铟氮系外延片。标准编号:SJ/T 11471-2014 
标准名称:发光二极管外延片测试方法 
标准状态:现行 
发布日期:2014-10-14 
实施日期:2015-04-01 
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部 

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