QB/T 4620-2013 手动机械线缆剪

本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称“基片”)的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。标准编号：GB/T 14620-2013 
标准名称:薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 
英文名称:Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits 
标准状态：现行 
发布日期：2013-11-12 
实施日期：2014-04-15 
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 
归口单位：中国电子技术标准化研究院 
起草人：曹易、李晓英 
起草单位：中国电子技术标准化研究院