JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统

本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。
本标准适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″，准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10″级和±20″级的光栅角位移测量系统标准编号：JB/T 10034-2012 
标准名称:光栅角位移测量系统 
英文名称:Grating angular displacement measuring system 
标准状态：现行 
发布日期：2012-05-24 
实施日期：2012-11-01 
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部 
归口单位：全国量具量仪标委会 
起草单位：四川科奥达技术有限公司、中国科学院光电技术研究所、长春禹衡光学有限公司等