本标准规定了基于光学干涉显微镜获取MEMS微结构表面形貌进行面内长度测量的方法。
本标准适用于表面反射率不低于4%,宽深比不低于1:10,且使用光学干涉显微镜能够获取形貌的MENS微结构。标准编号:GB/T 34893-2017
标准名称:微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
英文名称:Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
标准状态:现行
发布日期:2017-11-01
实施日期:2018-05-01
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
归口单位:全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
起草人:胡晓东、郭彤、于振毅、李海斌、程红兵、裘安萍、崔波、朱悦
起草单位:天津大学、中机生产力促进中心、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心、南京理工大学中国电子科技集团公司第十三研究所
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