半导体物理与测试分析

 

基本信息： 

【作　者】谭昌龙主编 

【丛书名】电子与通信工程系列 

【形态项】 152 

【出版项】 哈尔滨：哈尔滨工业大学出版社 , 2012.08 

【ISBN号】978-7-5603-3648-0 

【中图法分类号】O47 

【原书定价】20.00 

【主题词】半导体物理 

【参考文献格式】 谭昌龙主编. 半导体物理与测试分析. 哈尔滨：哈尔滨工业大学出版社, 2012.08. 

内容提要: 

《半导体物理与测试分析》结合半导体实际较全面地论述了半导体物理的基础知识。全书共6章，主要内容为：半导体的基本性质；半导体中杂质和缺陷能级；平衡态半导体中载流子的统计分布；半导体的导电性；非平衡半导体中载流子的运动规律；pn结。