本文件规定了用于光电耦合器件可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。标准编号:SJ/T 11845.2-2022
标准名称:基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分:光电耦合器件
标准状态:现行
发布日期:2022-09-30
实施日期:2023-01-01
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
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