SJ/T 11845.2-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件

本文件规定了用于光电耦合器件可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。标准编号：SJ/T 11845.2-2022 
标准名称:基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件 
标准状态：现行 
发布日期：2022-09-30 
实施日期：2023-01-01 
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部